Показать сокращенную информацию
Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки
dc.contributor.author | Кичигаева Диана Юрьевна | |
dc.contributor.author | Соломатин Константин Васильевич | |
dc.date.accessioned | 2019-09-12T03:49:46Z | |
dc.date.available | 2019-09-12T03:49:46Z | |
dc.date.issued | 2019 | |
dc.identifier.citation | Кичигаева, Д. Ю. Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки : выпускная квалификационная работа бакалавра по направлению подготовки: 03.03.02 - Физика. - Барнаул, 2019. | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://elibrary.asu.ru/handle/asu/8240 | |
dc.publisher | Барнаул | ru_RU |
dc.subject | 03.03.02 - Физика | ru_RU |
dc.title | Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки | ru_RU |