Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки

dc.contributor.author	Кичигаева Диана Юрьевна
dc.contributor.author	Соломатин Константин Васильевич
dc.date.accessioned	2019-09-12T03:49:46Z
dc.date.available	2019-09-12T03:49:46Z
dc.date.issued	2019
dc.identifier.citation	Кичигаева, Д. Ю. Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки : выпускная квалификационная работа бакалавра по направлению подготовки: 03.03.02 - Физика. - Барнаул, 2019.	ru_RU
dc.identifier.uri	http://elibrary.asu.ru/handle/asu/8240
dc.publisher	Барнаул	ru_RU
dc.subject	03.03.02 - Физика	ru_RU
dc.title	Применение интерференционного метода для определения толщины тонкой пленки	ru_RU