Определение толщины тонкой пленки и профиля её поверхности интерференционным методом
Открыть
Дата: 2022
Автор
Белоусов, Алексей Сергеевич
Соломатин, Константин Васильевич, канд. физ.-мат. наук, доцент
Выходные сведения
Белоусов, А. С. Определение толщины тонкой пленки и профиля её поверхности интерференционным методом : магистерская диссертация по направлению подготовки: 03.04.02 - Физика / А. С. Белоусов. – Барнаул, 2022