Изобретение относится к технологии производства тонких алмазных пленок и может быть использовано для оперативного контроля ее структурного состояния (распределения sp2 и sp3 связей).

Изобретение относится к спектральному методу контроля оптически прозрачных сред и может быть использовано для контроля качества меда, как в стационарных условиях, так и для экспресс-контроля.

Изобретение относится к области термомеханической обработки никелида титана, определение его деформационных характеристик в интервале температур, содержащем интервал обратимых термоупругих мартенситных превращений, ...

Изобретение относится к способу контроля упругих модулей в никелиде титана в интервале температур, содержащем интервал обратимых термоупругих мартенситных превращений, определяющих эффект памяти формы и сверхэластичность, ...

Изобретение относится к области пластической обработки металлов может быть использовано в различных областях промышленности и науки для глубокого формования металлических материалов.