• русский
    • English
  • English 
    • русский
    • English
  • Login
View Item 
  •   DLS AltSU
  • Объекты интеллектуальной собственности
  • Изобретения
  • View Item
  •   DLS AltSU
  • Объекты интеллектуальной собственности
  • Изобретения
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Способ измерения электропроводности тонких металлических пленок

Thumbnail
View/Open
2697473.pdf
Date: 2019-01-10
Author
Ишков, Алексей Владимирович
Дмитриев, Сергей Фёдорович
Маликов, Владимир Николаевич
Катасонов, Александр Олегович
Citation
Способ измерения электропроводности тонких металлических пленок: RU 2697473 C1: МПК G01N 27/90 (2006.01), G01R 27/02 (2006.01) / А. В. Ишков, С. Ф. Дмитриев, В. Н. Маликов, А. О. Катасонов; патентообладатель Алтайский государственный университет. - № 2019100657; заявл. 10.01.2019; опубл. 14.08.2019, Бюл. № 23. - 9 с.
Abstract
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может применяться для бесконтактного измерения удельной электрической проводимости тонких металлических пленок толщиной от 0,05 до 5 мкм. Актуальность данного изобретения обусловлена необходимостью оперативного и точного контроля электромагнитных параметров материалов в процессе их производства и эксплуатации.

URI: http://elibrary.asu.ru/handle/asu/8637
Metadata
Show full item record
Collections
  • Изобретения

Altai State University | University Libraries
Powered by free open source software DSpace
Contact Us | Send Feedback
 

 

Browse

AllCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

Login

Altai State University | University Libraries
Powered by free open source software DSpace
Contact Us | Send Feedback