Показать сокращенную информацию
Способ измерения электропроводности тонких металлических пленок
| dc.contributor.author | Ишков, Алексей Владимирович | |
| dc.contributor.author | Дмитриев, Сергей Фёдорович | |
| dc.contributor.author | Маликов, Владимир Николаевич | |
| dc.contributor.author | Катасонов, Александр Олегович | |
| dc.date.accessioned | 2020-02-28T07:52:50Z | |
| dc.date.available | 2020-02-28T07:52:50Z | |
| dc.date.issued | 2019-01-10 | |
| dc.identifier.citation | Способ измерения электропроводности тонких металлических пленок: RU 2697473 C1: МПК G01N 27/90 (2006.01), G01R 27/02 (2006.01) / А. В. Ишков, С. Ф. Дмитриев, В. Н. Маликов, А. О. Катасонов; патентообладатель Алтайский государственный университет. - № 2019100657; заявл. 10.01.2019; опубл. 14.08.2019, Бюл. № 23. - 9 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://elibrary.asu.ru/handle/asu/8637 | |
| dc.description.abstract | Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может применяться для бесконтактного измерения удельной электрической проводимости тонких металлических пленок толщиной от 0,05 до 5 мкм. Актуальность данного изобретения обусловлена необходимостью оперативного и точного контроля электромагнитных параметров материалов в процессе их производства и эксплуатации. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru_RU | ru_RU |
| dc.title | Способ измерения электропроводности тонких металлических пленок | ru_RU |
| dc.type | Other | ru_RU |
